Book of Abstracts of the 9th Workshop Dielectrics in Microelectronics. "Switching events in the soft breakdown I-t characteristic of ultrathin SiO2 layers". The 9th Workshop Dielectrics in Microelectronics.

E. Miranda, R. Rodríguez, M. Nafría, J. Suñé, X. Aymerich, d'Analyse et d'Architecture des Systèmes (LAAS-CNRS) Laboratoire (Editor/a)

    Producció científica: Llibre/InformeLlibre d'ActesRecerca

    Idioma originalUndefined/Unknown
    Lloc de publicacióToulouse. (FR)
    Nombre de pàgines1
    Estat de la publicacióPublicada - de juny 1998

    Com citar-ho