Fingerprint
Navegar pels temes de recerca de 'Analysis of the evolution of the trapped charge distributions in 10nm SiO<inf>2</inf> films during DC and bipolar dynamic stress'. Junts formen un fingerprint únic.- Ordenar per
- Ponderació
- Alfabèticament
Analysis of the evolution of the trapped charge distributions in 10nm SiO<inf>2</inf> films during DC and bipolar dynamic stress
R. Rodriguez, M. Nafria, J. Suñe, X. Aymerich
Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
5
Cites
(Scopus)