Fingerprint
Navegar pels temes de recerca de 'Analysis of set and reset mechanisms in Ni/HfO<inf>2</inf>-based RRAM with fast ramped voltages'. Junts formen un fingerprint únic.- Ordenar per
- Ponderació
- Alfabèticament
Analysis of set and reset mechanisms in Ni/HfO<inf>2</inf>-based RRAM with fast ramped voltages
M. Maestro, J. Martin-Martinez, J. Diaz, A. Crespo-Yepes, M. B. Gonzalez, R. Rodriguez, F. Campabadal, M. Nafria, X. Aymerich
Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
23
Cites
(Scopus)