Analog and digital circuit functionality under the influence of gate oxide degradation and breakdown

R. Rodríguez, R. Fernández, M. Nafría, X. Aymerich, Lucas M. Simon Noah T. Andre (Editor/a), Javier Martin Martinez

Producció científica: Capítol de llibreCapítolRecerca

Idioma originalEnglish
Títol de la publicacióMOSFETs: Properties, Preparations and Performance
Lloc de publicacióLondres (GB)
Pàgines401-419
Nombre de pàgines18
Edició1
Estat de la publicacióPublicada - 1 de gen. 2008

Com citar-ho