Advanced Measurement Techniques for the Characterization of Reram Devices

M Nafria; Rosana Rodriguez Martinez; Marc Porti Pujal; Javier Martin Martinez; Albert Crespo Yepes; Sergi Claramunt Ruiz; Xavier Aymerich

Advanced Measurement Techniques for the Characterization of Reram Devices

M Nafria, Rosana Rodriguez Martinez, Marc Porti Pujal, Javier Martin Martinez, Albert Crespo Yepes, Sergi Claramunt Ruiz, Xavier Aymerich

Departament d'Enginyeria Electrònica

Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts

1 Citació (Scopus)

Idioma original	Anglès
Pàgines (de-a)	139
Nombre de pàgines	148
Revista	ECS Transactions
Volum	79
Número	1
Estat de la publicació	Publicada - 2017

Altres arxius i enllaços

https://www.scopus.com/pages/publications/85020536040

Com citar-ho

@article{5902e23bce114f8bbabd1a8f61adf5f9,

title = "Advanced Measurement Techniques for the Characterization of Reram Devices",

author = "M Nafria and \{Rodriguez Martinez\}, Rosana and \{Porti Pujal\}, Marc and \{Martin Martinez\}, Javier and \{Crespo Yepes\}, Albert and \{Claramunt Ruiz\}, Sergi and Xavier Aymerich",

year = "2017",

language = "English",

volume = "79",

pages = "139",

number = "1",

}

TY - JOUR

T1 - Advanced Measurement Techniques for the Characterization of Reram Devices

AU - Nafria, M

AU - Rodriguez Martinez, Rosana

AU - Porti Pujal, Marc

AU - Martin Martinez, Javier

AU - Crespo Yepes, Albert

AU - Claramunt Ruiz, Sergi

AU - Aymerich, Xavier

PY - 2017

Y1 - 2017

UR - https://www.scopus.com/pages/publications/85020536040

M3 - Article

SN - 1938-5862

VL - 79

SP - 139

JO - ECS Transactions

JF - ECS Transactions

IS - 1

ER -