Idioma original | Anglès |
---|---|
Pàgines (de-a) | 139 |
Nombre de pàgines | 148 |
Revista | ECS Transactions |
Volum | 79 |
Número | 1 |
Estat de la publicació | Publicada - 2017 |
Advanced Measurement Techniques for the Characterization of Reram Devices
M Nafria, Rosana Rodriguez Martinez, Marc Porti Pujal, Javier Martin Martinez, Albert Crespo Yepes, Sergi Claramunt Ruiz, Xavier Aymerich
Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
1
Citació
(Scopus)