A Machine Vision System for the Inspection of Industrial Sieves: VII National Symposium on Pattern Recognition and Image Analysis

A. Pujol, X. Varona, J. Serrat, A. Sanfeliu (Editor), J. Vitrià (Editor)

    Producció científica: LLibre/informeLlibre d'ActesRecerca

    Idioma originalNo s'ha definit/desconegut
    Lloc de publicacióUniversitat Autónoma de Barcelona (ES)
    Nombre de pàgines2
    Estat de la publicacióPublicada - de gen. 1997

    Com citar-ho