A logic-based scan-path algorithm

J. Oliver, C. Ferrer, E. Valderrama

    Producció científica: Capítol de llibreCapítolRecerca

    Idioma originalAnglès
    Títol de la publicacióProceedings of the 5th International Conference on Quality in Electronic Component, Failure Prevention, Detection and Analysis, and 2nd European Symposium on Realibility of Electronic Devices, Failure
    Lloc de publicacióBordeus (FR)
    EditorUniversité de Bordeaux
    Pàgines555-561
    Nombre de pàgines6
    Edició1
    Estat de la publicacióPublicada - 1 de gen. 1991

    Com citar-ho