A contact resistance extraction method of 2D-FET technologies without test structures

Producció científica: Llibre/InformeLlibre d'ActesRecercaAvaluat per experts

2 Cites (Scopus)

Fingerprint

Navegar pels temes de recerca de 'A contact resistance extraction method of 2D-FET technologies without test structures'. Junts formen un fingerprint únic.

Engineering

Material Science