A conductive AFM nanoscale analysis of NBTI and channel hot-carrier degradation in MOSFETs

Qian Wu, Albin Bayerl, Marc Porti, Javier Martin-Martinez, Mario Lanza, Rosana Rodriguez, Vikas Velayudhan, Montserrat Nafria, Xavier Aymerich, Mireia Bargallo Gonzalez, Eddy Simoen

Producció científica: Contribució a una revistaArticleRecercaAvaluat per experts

8 Cites (Scopus)

Fingerprint

Navegar pels temes de recerca de 'A conductive AFM nanoscale analysis of NBTI and channel hot-carrier degradation in MOSFETs'. Junts formen un fingerprint únic.

Engineering

Material Science