THE VARIABILITY CHALLENGE IN NANO-CMOS AND BEYOND-CMOS: HARNESSING DEVICES AND MATERIALS FOR MITIGATION AND EXPLOITATION (VIGILANT-UAB)

Rodriguez Martinez, Rosana (Investigador/a principal)
Nafria Maqueda, Montserrat (Co-Investigador/a Principal)
Diaz Fortuny, Javier (Col.laborador/a)
Pedreira Rincon, Gerard (Col.laborador/a)
Pedro Puig, Marta (Col.laborador/a)
Ruiz Flores, Ana (Col.laborador/a)
Salvador Aguilera, Emili (Col.laborador/a)
Aymerich Humet, Francisco Javier (Investigador/a)
Crespo Yepes, Albert (Investigador/a)
Martin Martinez, Javier (Investigador/a)
Porti Pujal, Marc (Investigador/a)
Valdivieso Leon, Carlos Andres (Col.laborador/a)
Claramunt Ruiz, Sergi (Col.laborador/a)

Departament d'Enginyeria Electrònica

Estatus	Acabat
Data efectiva d'inici i finalització	1/06/20 → 29/02/24

Socis col·laboradors

Universidad de Sevilla (US) (guia)
Universitat Politècnica de Catalunya, Barcelona, (Responsable del Subprojecte)

A Simple, Robust, and Versatile MATLAB Formulation of the Dynamic Memdiode Model for Bipolar-Type Resistive Random Access Memory Devices
Salvador Aguilera, E., Rodriguez, R. & Miranda, E., 28 de maig 2024, In: Journal of Low Power Electronics and Applications. 14, 2, 11 pàg., 30.
Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts

Accés Obert
2 L'enllaç s'obre en una pestanya nova Cites (Scopus)
Assessment of the variability of the I-V characteristic of HfO2-based resistive switching devices and its simulation using the quasi-static memdiode model
Salvador Aguilera, E., Bargallo Gonzalez, M., Campabadal, F., Martin-Martinez, J., Rodriguez, R. & Miranda, E., d’ag. 2023, In: Solid-State Electronics. 206, 10 pàg., 108667.
Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts

Accés Obert
7 L'enllaç s'obre en una pestanya nova Cites (Scopus)
SPICE modeling of cycle-to-cycle variability in RRAM devices
Salvador Aguilera, E., Bargallo Gonzalez, M., Campabadal, F., Martin Martinez, J., Rodríguez Martínez, R. & Miranda, E., 2021, In: Solid-State Electronics. 185
Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts

Accés Obert
12 L'enllaç s'obre en una pestanya nova Cites (Scopus)

Replication Data for: Oxide Breakdown Spot Spatial Patterns as Fingerprints for Optical Physical Unclonable Functions
Porti Pujal, M. (Creador), Redon Bosch, M. (Creador), Muñoz Gorriz, J. (Creador), Nafria, M. (Creador) & Miranda, E. (Creador), CORA.Repositori de Dades de Recerca, 20 de nov. 2025
DOI: 10.34810/data2757
Conjunt de dades