Disseny i realització d'un sistema de mesura del camp evanescent PSTM per a una anàlisi de components òptics integrats.

Amb aquest projecte pretenem desenvolupar un sistema que permeti analitzar els camps electromagnètics locals en components òptics passius, integrats en silici, sobre la base de la microscòpia per túnel de fotons (PSTM). En primer lloc, dissenyarem i construirem el PSTM alhora que fabricarem, amb tecnologia de silici, guies d'ones amb estructures ARROW. Aquestes guies seran caracteritzades òpticament i estudiarem el comportament del camp evanescent en funció dels paràmetres del procés tecnològic. El resultat d'aquesta anàlisi servirà per a millorar el disseny i l'obtenció dels components passius, que es durà a terme en una segona fase, la caracterització dels quals confrontarem amb l'anàlisi per PSTM.