Desarrollo de instrumentación polarimétrica avanzada para la caracterización de materiales y tejidos; y metrología de superficies por deflectometría

En este proyecto coordinado se han desarrollado tecnologías ópticas y fotónicas para el avance del reto"Salud, cambio demográfico y bienestar", en concreto técnicas ópticas avanzadas para dos tipos deinstrumentación diferentes: 1) polarímetros de imagen, y 2) sistemas de alta precisión para medir latopología de superficies reflectantes.El proyecto se ha dividido en 3 bloques principales:(i) Instrumentación polarimétrica y su uso en aplicaciones biomédicas y botánicas;Se han desarrollado sistemas polarímetros de imagen automáticos basados en moduladores de cristallíquido. Se han definido nuevas métricas de utilidad en la imagen polarimétrica y se han desarrolladoherramientas matemáticas para analizar los datos. Todo ello se ha aplicado para la mejora de imagen ycaracterización en tejidos de origen animal y en plantas, así como para el desarrollo de métodos basadosen algoritmos de regresión y clasificación para el reconocimiento automático de estructuras orgánicas.(ii) Generación de haces vectoriales y luz estructurada;Se han desarrollado métodos para la generación y detección de haces vectoriales, con patronesespaciales del estado de polarización, tanto mediante dispositivos moduladores espaciales de luz comocon nuevos elementos difractivos de fase geométrica. Se han desarrollado técnicas para el empleoóptimo de estos componentes ópticos en términos de eficiencia de difracción y de conversión depolarización.(iii) Metrología de superficies ópticas ultraprecisas.Se han desarrollado métodos para mejorar y caracterizar la incertidumbre de las medidas de superficiesde espejos largos y curvados mediante sistemas deflectométricos. Se ha desarrollado un instrumentopara obtener la topografía de espejos grandes mediante interferometría y stitching, y se han desarrolladoalgoritmos para reconstruir la superficie. Se ha estudiado los límites de la técnica y se han implementadosoluciones para resolver las incertidumbres del sistema. Finalmente se ha desarrollado un sistema deóptica adaptativa para rayos X con capacidad de control por debajo del nanómetro, en condiciones de operación