Degradación y ruptura de estructuras metal gate/high-K/III-v semiconductor

Detalls del projecte

Descripció

Resum no disponible en aquesta llengua.
EstatusAcabat
Data efectiva d'inici i finalització1/12/0930/11/12

Finançament

  • Ministerio de Ciencia e Innovación (MICINN): 52.000,00 €

Fingerprint

Explora els temes de recerca tractats en aquest projecte. Les etiquetes es generen en funció dels ajuts rebuts. Juntes formen un fingerprint únic.