Anàlisi del rendiment en la implantació d'una estratègia de test per MCMS amb substrat actiu.

Els MultiChip Modeules (MCMs) són circuits electrònics especialment indicats en la cosntrucció de microsistemes gràcies a les seves dimensions i consum reduits, i a la seva velocitat de funcionament. No obstant, la seva difícil comprovabilitat dificulta en gran mesura la seva aplicabilitat a microsistemes en general. En aquest sentit, el projecte que es presenta estudia i aplica tècniques de disseny per la testabilitat basades en boundary scan i test per mesura de corrent (actualment utilitzades en el test de circuits integrats) a substrats actius de silici en MCMs de deposició. Els objectius imposats per aconseguir una major comprobabilitat del MCM són: - Creació d'una biblioteca bàsica d'estructures de test per la testabilitat en MCMs de deposició amb substrat actiu sobre tecnologia CMOS25 del Centro Nacional de Microelectrónica. - Realització d'un mòdul multicircuit demostrador, basat