Projectes per any
Perfil personal
Educació / qualificació acadèmica
Doctor/a, Doctorat, Universitat Autònoma de Barcelona (UAB)
Data d'adjudicació: 1 de gen. 2000
Llicenciat/da, Ingeniería de Telecomunicación, Universitat Politècnica de Catalunya
Data d'adjudicació: 6 de jul. 1995
Fingerprint
- 1 Perfils similars
Col·laboracions i principals àrees de recerca dels darrers cinc anys
-
RELIABILITY, SECURITY AND ENERGY EFFICIENCY IN ELECTRONIC DEVICES AND CIRCUITS FOR IOT EDGE (TIRELESS-UAB)
Nafria Maqueda, M. (PI), Porti Pujal, M. (Co-Investigador/a Principal), Crespo Yepes, A. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Rodriguez Martinez, R. (Investigador/a), Valdivieso Leon, C. A. (Col.laborador/a), Salvador Aguilera, E. (Col.laborador/a), Goyal Goyal, R. (Col.laborador/a) & Baghban Bousari, N. (Col.laborador/a)
1/09/23 → 31/08/27
Projecte: Projectes i Ajuts a la Recerca
-
Non-volAtile memRisTive swItches For hIgh frequenCy opEration
Verdu Tirado, J. A. (PI), Bargallo Gonzalez, M. (Investigador/a), Campabadal Segura, F. (Investigador/a), Crespo Yepes, A. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Nafria Maqueda, M. (Investigador/a), Paco Sanchez, P. A. D. (Investigador/a), Rodriguez Martinez, R. (Investigador/a), Amarilla Rions, O. T. (Altres) & Guerrero Menéndez, E. (Altres)
2/12/24 → 1/06/25
Projecte: Projectes i Ajuts a la Recerca
-
THE VARIABILITY CHALLENGE IN NANO-CMOS AND BEYOND-CMOS: HARNESSING DEVICES AND MATERIALS FOR MITIGATION AND EXPLOITATION (VIGILANT-UAB)
Rodriguez Martinez, R. (PI), Nafria Maqueda, M. (Co-Investigador/a Principal), Diaz Fortuny, J. (Col.laborador/a), Pedreira Rincon, G. (Col.laborador/a), Pedro Puig, M. (Col.laborador/a), Ruiz Flores, A. (Col.laborador/a), Salvador Aguilera, E. (Col.laborador/a), Aymerich Humet, F. J. (Investigador/a), Crespo Yepes, A. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Porti Pujal, M. (Investigador/a), Valdivieso Leon, C. A. (Col.laborador/a) & Claramunt Ruiz, S. (Col.laborador/a)
1/06/20 → 29/02/24
Projecte: Projectes i Ajuts a la Recerca
-
Beneficio del ruido en la respuesta de menrístores para el desarrollo de sistemas de computación alternativas y avanzadas.
Rodriguez Martinez, R. (PI), Crespo Yepes, A. (Col.laborador/a), Pedro Puig, M. (Col.laborador/a), Salvador Aguilera, E. (Col.laborador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Nafria Maqueda, M. (Investigador/a) & Rubio Solá, A. (Investigador/a)
Ministerio de Economía y Competitividad (MINECO)
1/11/18 → 30/09/21
Projecte: Projectes i Ajuts a la Recerca
-
Dispositivos, circuitos y arquitecturas fiables y de bajo consumo para iot
Nafria Maqueda, M. (PI), Porti Pujal, M. (Co-Investigador/a Principal), Diaz Fortuny, J. (Col.laborador/a), Pedro Puig, M. (Col.laborador/a), Ruiz Flores, A. (Col.laborador/a), Aymerich Humet, F. J. (Investigador/a), Crespo Yepes, A. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Rodriguez Martinez, R. (Investigador/a) & Pedreira Rincon, G. (Col.laborador/a)
Ministerio de Economía y Competitividad (MINECO)
30/12/16 → 29/06/21
Projecte: Projectes i Ajuts a la Recerca
-
Resistive Switching phenomenon in FD-SOI Ω-Gate FETs: Transistor performance recovery and back gate bias influence
Valdivieso, C., Rodriguez, R., Crespo-Yepes, A., Martin-Martinez, J. & Nafria, M., d’abr. 2025, In: SOLID-STATE ELECTRONICS. 225, 4 pàg., 109067.Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
Accés Obert1 Descàrregues (Pure) -
Modeling and Simulation of Correlated Cycle-to-Cycle Variability in the Current-Voltage Hysteresis Loops of RRAM Devices
Salvador Aguilera, E., Bargallo Gonzalez, M., Campabadal, F., Rodríguez Martínez, R. & Miranda, E., 2024, In: IEEE transactions on nanotechnology. 23, pàg. 758-764 7 pàg.Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
Accés Obert -
Stochastic Resonance in HfO2-Based Memristors : Impact of External Noise on the Binary STDP Protocol
Salvador Aguilera, E., Rodríguez Martínez, R., Miranda, E., Martin Martinez, J., Rubio, A., Ntinas, V., Sirakoulis, G. C., Crespo Yepes, A. & Nafría i Maqueda, M., de set. 2024, In: IEEE transactions on electron devices. 71, 9, pàg. 5761-5766 6 pàg.Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
Accés Obert1 Citació (Scopus) -
Challenges and solutions to the defect-centric modeling and circuit simulation of time-dependent variability
Martin-Martinez, J., Diaz-Fortuny, J., Saraza-Canflanca, P., Rodriguez, R., Castro-Lopez, R., Roca, E., Fernandez, F. V. & Nafria, M., 2023, Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc. 9 pàg. (IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings; vol. 2023-March)Producció científica: LLibre/informe › Llibre d'Actes › Recerca › Avaluat per experts
Accés Obert2 Cites (Scopus)1 Descàrregues (Pure) -
Impact of OFF-State, HCI and BTI degradation in FDSOI Ω-gate NW-FETs
Valdivieso, C., Crespo-Yepes, A., Miranda, R., Bernal, D., Martin-Martinez, J., Rodriguez, R. & Nafria, M., de maig 2023, In: SOLID-STATE ELECTRONICS. 203, 5 pàg., 108625.Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
Accés Obert1 Descàrregues (Pure)
Tesi
-
Distribuciones de la carga atrapada en el óxido de puerta de dispositivos MOS en condiciones de estrés estático y dinámico
Rodríguez Martínez, R. (Autor), Nafría Maqueda, M. (Director/a), 17 de jul. 1997Tesi d’estudis: Tesina (TFM)
-
Análisis de la degradación y ruptura dieléctrica de capas finas de SiO2 en dispositivos MOS sometidos a estreses estáticos y dinámicos. (Premio extraordinario de doctorado)
Rodriguez Martinez, R. (Autor), Nafría Maqueda, M. (Director/a), 13 de jul. 2000Tesi d’estudis: Tesi doctoral