Projectes per any
Perfil personal
Educació / qualificació acadèmica
Doctor/a, Doctora en Ciencias Físicas, Universitat Autònoma de Barcelona (UAB)
Data d'adjudicació: 9 de juny 1993
Llicenciat/da, Llicenciat Ciencies Físiques, Universitat Autònoma de Barcelona (UAB)
Data d'adjudicació: 1 de gen. 1989
Fingerprint
Consulta els temes de recerca on Montserrat Nafria Maqueda està actiu. Aquestes etiquetes temàtiques provenen de treballs d’aquesta persona. Junts formen un fingerprint únic.
- 1 Perfils similars
-
RELIABILITY, SECURITY AND ENERGY EFFICIENCY IN ELECTRONIC DEVICES AND CIRCUITS FOR IOT EDGE (TIRELESS-UAB)
Nafria Maqueda, M. (PI), Porti Pujal, M. (Co-Investigador/a Principal), Crespo Yepes, A. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Rodriguez Martinez, R. (Investigador/a), Valdivieso Leon, C. A. (Col.laborador/a), Salvador Aguilera, E. (Col.laborador/a), Goyal Goyal, R. (Col.laborador/a) & Baghban Bousari, N. (Col.laborador/a)
Fons Europeu de Desenvolupament Regional (FEDER)
1/09/23 → 31/08/27
Projecte: Projectes i Ajuts a la Recerca
-
Non-volAtile memRisTive swItches For hIgh frequenCy opEration
Verdu Tirado, J. A. (PI), Bargallo Gonzalez, M. (Investigador/a), Campabadal Segura, F. (Investigador/a), Crespo Yepes, A. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Nafria Maqueda, M. (Investigador/a), Paco Sanchez, P. A. D. (Investigador/a), Rodriguez Martinez, R. (Investigador/a), Amarilla Rions, O. T. (Altres) & Guerrero Menéndez, E. (Altres)
2/12/24 → 1/06/25
Projecte: Projectes i Ajuts a la Recerca
-
THE VARIABILITY CHALLENGE IN NANO-CMOS AND BEYOND-CMOS: HARNESSING DEVICES AND MATERIALS FOR MITIGATION AND EXPLOITATION (VIGILANT-UAB)
Rodriguez Martinez, R. (PI), Nafria Maqueda, M. (Co-Investigador/a Principal), Diaz Fortuny, J. (Col.laborador/a), Pedreira Rincon, G. (Col.laborador/a), Pedro Puig, M. (Col.laborador/a), Ruiz Flores, A. (Col.laborador/a), Salvador Aguilera, E. (Col.laborador/a), Aymerich Humet, F. J. (Investigador/a), Crespo Yepes, A. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Porti Pujal, M. (Investigador/a), Valdivieso Leon, C. A. (Col.laborador/a) & Claramunt Ruiz, S. (Col.laborador/a)
1/06/20 → 29/02/24
Projecte: Projectes i Ajuts a la Recerca
-
Beneficio del ruido en la respuesta de menrístores para el desarrollo de sistemas de computación alternativas y avanzadas.
Rodriguez Martinez, R. (PI), Crespo Yepes, A. (Col.laborador/a), Pedro Puig, M. (Col.laborador/a), Salvador Aguilera, E. (Col.laborador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Nafria Maqueda, M. (Investigador/a) & Rubio Solá, A. (Investigador/a)
Ministerio de Economía y Competitividad (MINECO)
1/11/18 → 30/09/21
Projecte: Projectes i Ajuts a la Recerca
-
Dispositivos, circuitos y arquitecturas fiables y de bajo consumo para iot
Nafria Maqueda, M. (PI), Porti Pujal, M. (Co-Investigador/a Principal), Diaz Fortuny, J. (Col.laborador/a), Pedro Puig, M. (Col.laborador/a), Ruiz Flores, A. (Col.laborador/a), Aymerich Humet, F. J. (Investigador/a), Crespo Yepes, A. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Rodriguez Martinez, R. (Investigador/a) & Pedreira Rincon, G. (Col.laborador/a)
Ministerio de Economía y Competitividad (MINECO), Fons Europeu de Desenvolupament Regional (FEDER)
30/12/16 → 29/06/21
Projecte: Projectes i Ajuts a la Recerca
-
A statistical characterization of dielectric breakdown in FDSOI nanowire transistors
Goyal, R., Crespo-Yepes, A., Porti, M., Rodriguez, R. & Nafria, M., 11 de gen. 2026, In: Microelectronic Engineering. 302, 8 pàg., 112422.Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
Accés Obert3 Descàrregues (Pure) -
Feasibility of Physical Unclonable Functions from Pre-stressed Organic Thin Film Transistors for Secure Microelectronics
Baghban-Bousari, N., Eric, D., Palau, G., Crespo-Yepes, A., Porti, M., Ramon, E., Ogier, S. & Nafria, M., 11 de gen. 2026, In: Microelectronic Engineering. 302, 5 pàg., 112407.Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
Accés Obert1 Descàrregues (Pure) -
On the role of power dissipation in the Post-BD behavior of FDSOI NanoWire FETs
Goyal, R., Crespo Yepes, A., Porti i Pujal, M., Rodríguez Martínez, R. & Nafría i Maqueda, M., de des. 2025, In: Solid-State Electronics. 230, 4 pàg., 109228.Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
Accés Obert1 Descàrregues (Pure) -
Physical Unclonable Functions based on the post-breakdown current of FDSOI Nanowire Transistors
Goyal, R., Porti i Pujal, M., Crespo Yepes, A. & Nafría i Maqueda, M., 9 de juny 2025, In: IEEE electron device letters. 46, 8, pàg. 1273-1276 4 pàg.Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
Accés Obert2 Descàrregues (Pure) -
Reliability Assessment of Optical Physical Unclonable Functions Based on the Spatial Distribution of Catastrophic Failure Sites in MIM Structures
Porti, M., Solis, A., Calatayud, A., Nafría, M. & Miranda, E., 17 de febr. 2025, In: IEEE Access. 13, pàg. 33189-33201 13 pàg.Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
Accés Obert1 Citació (Scopus)2 Descàrregues (Pure)
Tesi
-
Análisis de la ruptura dieléctrica del SiO\sub 2\nosub para la simulación de fiabilidad
Nafría Maqueda, M. (Autor), Aymerich Humet, X. (Director/a), 28 de maig 1993Tesi d’estudis: Tesi doctoral
Conjunts de dades
-
Replication Data for: Oxide Breakdown Spot Spatial Patterns as Fingerprints for Optical Physical Unclonable Functions
Porti Pujal, M. (Col·laborador), Redon Bosch, M. (Col·laborador), Muñoz Gorriz, J. (Col·laborador), Nafria, M. (Col·laborador) & Miranda, E. (Col·laborador), CORA.Repositori de Dades de Recerca, 20 de nov. 2025
DOI: 10.34810/data2757
Conjunt de dades
-
Replication Data for: Reliability Assessment of Optical Physical Unclonable Functions based on the Spatial Distribution of Catastrophic Failure Sites in MIM Structures
Porti Pujal, M. (Col·laborador), Solis, A. (Col·laborador), Calatayud, A. (Col·laborador), Nafria, M. (Col·laborador) & Miranda, E. (Col·laborador), CORA.Repositori de Dades de Recerca, 20 de nov. 2025
DOI: 10.34810/data2758
Conjunt de dades
-
Replication Data for: Physical Unclonable Functions based on the post-breakdown current of FDSOI Nanowire Transistors
Porti Pujal, M. (Col·laborador), Goyal, R. (Col·laborador), Crespo-Yepes, A. (Col·laborador) & Nafria, M. (Col·laborador), CORA.Repositori de Dades de Recerca, 10 de nov. 2025
DOI: 10.34810/data2740
Conjunt de dades
Organitzacions
-
Enginyeria de Dispositius Electrònics / Electron Device Engineering
Unitat organitzativa: Grup de Recerca