Resultats de la cerca

• Caracterització a escala nanomètrica de la degradació i ruptura dielèctrica del SiO2 en dispositius MOS mitjançant C-AFM

  Porti Pujal, M. (Autor/a)Aymerich Humet, X. (Director/a) & Nafría Maqueda, M. (Director/a), 4 d’abr. 2003

  Tesi d’estudis: Tesi doctoral