Projectes per any
Perfil personal
Fingerprint
Consulta els temes de recerca on Javier Martin Martinez està actiu. Aquestes etiquetes temàtiques provenen de treballs d’aquesta persona. Junts formen un fingerprint únic.
- 1 Perfils similars
Col·laboracions i principals àrees de recerca dels darrers cinc anys
Col·laboració externa recent a nivell de país Feu una immersió en els detalls fent clic als punts.
-
RELIABILITY, SECURITY AND ENERGY EFFICIENCY IN ELECTRONIC DEVICES AND CIRCUITS FOR IOT EDGE (TIRELESS-UAB)
Nafria Maqueda, M. (Investigador/a principal), Porti Pujal, M. (Co-Investigador/a Principal), Crespo Yepes, A. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Rodriguez Martinez, R. (Investigador/a), Valdivieso Leon, C. A. (Col.laborador/a), Salvador Aguilera, E. (Col.laborador/a), Goyal Goyal, R. (Col.laborador/a) & Baghban Bousari, N. (Col.laborador/a)
Fons Europeu de Desenvolupament Regional (FEDER)
1/09/23 → 31/08/27
Projecte: Projectes i Ajuts a la Recerca
-
Non-volAtile memRisTive swItches For hIgh frequenCy opEration
Verdu Tirado, J. A. (Investigador/a principal), Bargallo Gonzalez, M. (Investigador/a), Campabadal Segura, F. (Investigador/a), Crespo Yepes, A. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Nafria Maqueda, M. (Investigador/a), Paco Sanchez, P. A. D. (Investigador/a), Rodriguez Martinez, R. (Investigador/a), Amarilla Rions, O. T. (Altres) & Guerrero Menéndez, E. (Altres)
2/12/24 → 1/06/25
Projecte: Projectes i Ajuts a la Recerca
-
THE VARIABILITY CHALLENGE IN NANO-CMOS AND BEYOND-CMOS: HARNESSING DEVICES AND MATERIALS FOR MITIGATION AND EXPLOITATION (VIGILANT-UAB)
Rodriguez Martinez, R. (Investigador/a principal), Nafria Maqueda, M. (Co-Investigador/a Principal), Diaz Fortuny, J. (Col.laborador/a), Pedreira Rincon, G. (Col.laborador/a), Pedro Puig, M. (Col.laborador/a), Ruiz Flores, A. (Col.laborador/a), Salvador Aguilera, E. (Col.laborador/a), Aymerich Humet, F. J. (Investigador/a), Crespo Yepes, A. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Porti Pujal, M. (Investigador/a), Valdivieso Leon, C. A. (Col.laborador/a) & Claramunt Ruiz, S. (Col.laborador/a)
1/06/20 → 29/02/24
Projecte: Projectes i Ajuts a la Recerca
-
Beneficio del ruido en la respuesta de menrístores para el desarrollo de sistemas de computación alternativas y avanzadas.
Rodriguez Martinez, R. (Investigador/a principal), Crespo Yepes, A. (Col.laborador/a), Pedro Puig, M. (Col.laborador/a), Salvador Aguilera, E. (Col.laborador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Nafria Maqueda, M. (Investigador/a) & Rubio Solá, A. (Investigador/a)
Ministerio de Economía y Competitividad (MINECO)
1/11/18 → 30/09/21
Projecte: Projectes i Ajuts a la Recerca
-
Obleas para automoción y otras aplicaciones clave utilizando memorias integradas en microprocesadores ULSI
Suñe Tarruella, J. F. (Investigador/a principal), Boquet Pujadas, G. (Investigador/a), Lopez Vicario, J. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Miranda Castellano, E. A. (Investigador/a), Morell Perez, A. (Investigador/a), Muñoz Gorriz, J. (Investigador/a) & Pedro Puig, M. (Investigador/a)
Comissió Europea (CE), Ministerio de Ciencia e Innovación (MICINN)
1/05/18 → 31/08/21
Projecte: Projecte Internacional de Recerca
-
Comprehensive statistical analysis of random telegraph noise: Impact of gate voltage, temperature, and Bias time
Martin-Martinez, J., Baghban-Bousari, N., Castro-Lopez, R., Eric, D., Roca, E., Rodriguez, R., Porti, M., Fernandez, F. V. & Nafria, M., 1 de març 2026, In: Microelectronic Engineering. 303, 112437.Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
2 Descàrregues (Pure) -
Resistive Switching phenomenon in FD-SOI Ω-Gate FETs: Transistor performance recovery and back gate bias influence
Valdivieso, C., Rodriguez, R., Crespo-Yepes, A., Martin-Martinez, J. & Nafria, M., d’abr. 2025, In: SOLID-STATE ELECTRONICS. 225, 4 pàg., 109067.Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
Accés Obert1 Descàrregues (Pure) -
Noise-Induced Homeostasis in Memristor-Based Neuromorphic Systems
Salvador, E., Rodriguez, R., Miranda, E., Martin-Martinez, J., Rubio, A., Crespo-Yepes, A., Ntinas, V., Sirakoulis, G. C. & Nafria, M., d’ag. 2024, In: IEEE Electron Device Letters. 45, 8, pàg. 1524-1527 4 pàg.Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
Accés Obert4 Cites (Scopus)1 Descàrregues (Pure) -
Stochastic Resonance in HfO2-Based Memristors: Impact of External Noise on the Binary STDP Protocol
Salvador Aguilera, E., Rodríguez Martínez, R., Miranda, E., Martin Martinez, J., Rubio, A., Ntinas, V., Sirakoulis, G. C., Crespo Yepes, A. & Nafría i Maqueda, M., 9 d’ag. 2024, In: IEEE transactions on electron devices. 71, 9, pàg. 5761-5766 6 pàg.Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
Accés Obert2 Cites (Scopus) -
A New Framework for Evaluating Image Quality Including Deep Learning Task Performances as a Proxy
Galles, P., Takats, K., Hernandez-Cabronero, M., Berga, D., Pega, L., Riordan-Chen, L., Garcia, C., Becker, G., Garriga, A., Bukva, A., Serra-Sagrista, J., Vilaseca, D. & Marin, J., 13 de des. 2023, In: IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing. 17, pàg. 3285-3296 12 pàg.Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
Accés Obert1 Citació (Scopus)
Tesi
-
Modelado de los efectos de la ruptura dieléctrica, BTI y variabilidad en MOSFETs Ultraescalados para la simulaciójn de circuitos. (Mención Europea)
Martín Martínez, J. (Autor), Nafría Maqueda, M. (Director/a), 21 de jul. 2009Tesi d’estudis: Tesi doctoral