Projectes per any
Perfil personal
Educació / qualificació acadèmica
Llicenciat/da, Llicenciat, Universitat Autònoma de Barcelona (UAB)
Data d'adjudicació: 1 de gen. 2004
Posicions externes
Becari, Transports Metropolitans de Barcelona (TMB)
15 de gen. 2004 → 15 de set. 2004
Fingerprint
Consulta els temes de recerca on Esteve Amat Bertran està actiu. Aquestes etiquetes temàtiques provenen de treballs d’aquesta persona. Junts formen un fingerprint únic.
- 1 Perfils similars
Col·laboracions i principals àrees de recerca dels darrers cinc anys
Col·laboració externa recent a nivell de país Feu una immersió en els detalls fent clic als punts.
Projectes
- 2 Acabat
-
Variabilidad y fiabilidad en dispositivos electrónicos avanzados: de la nanoescala al circuito (VARENAC)
Nafria Maqueda, M. (PI), Amat Bertran, E. (Investigador/a), Ayala Cintas, N. (Investigador/a), Aymerich Humet, F. J. (Investigador/a), Bayerl , A. (Investigador/a), Crespo Yepes, A. (Investigador/a), Iglesias Santiso, V. (Investigador/a), Lanza Martínez, M. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Porti Pujal, M. (Investigador/a), Rodriguez Martinez, R. (Investigador/a), Velayudhan , V. (Investigador/a), Moras Albero, M. (Investigador/a), Maestro Izquierdo, M. (Investigador/a), Couso Fontanillo, C. (Investigador/a), Diaz Fortuny, J. (Altres) & Claramunt Ruiz, S. (Investigador/a)
Ministerio de Ciencia e Innovación (MICINN)
1/01/11 → 31/12/14
Projecte: Projectes i Ajuts a la Recerca
-
Prestaciones y Fiabilidad de Dispositivos y Circuitos CMOS Nanoelectrónicos basados en Materiales Alternativos
Nafria Maqueda, M. (PI), Martin Martinez, J. (Becari/a), Aguilera Martínez, L. (Investigador/a), Amat Bertran, E. (Investigador/a), Aymerich Humet, F. J. (Investigador/a), Boix Gargallo, J. (Investigador/a), Lanza Martínez, M. (Investigador/a), Porti Pujal, M. (Investigador/a), Raul Fernandez Garcia (Investigador/a) & Rodriguez Martinez, R. (Investigador/a)
Ministerio de Educación y Ciencia (MEC)
1/10/07 → 30/09/10
Projecte: Projectes i Ajuts a la Recerca
Producció científica
- 13 Article
-
Random Telegraph Noise and Bias Temperature Instabilities statistical characterization of Ω-gate FDSOI devices at low voltages
Pedreira, G., Martin-Martinez, J., Crespo-Yepes, A., Amat, E., Rodriguez, R. & Nafria, M., de nov. 2023, In: SOLID-STATE ELECTRONICS. 209, 4 pàg., 108735.Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
Accés Obert1 Descàrregues (Pure) -
A comprehensive study of channel hot-carrier degradation in short channel MOSFETs with high-k dielectrics
Amat, E., Kauerauf, T., Rodriguez, R., Nafria, M., Aymerich, X., Degraeve, R. & Groeseneken, G., 1 de gen. 2013, In: Microelectronic Engineering. 103, pàg. 144-149Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
19 Cites (Scopus) -
Gate voltage influence on the channel hot-carrier degradation of high-κ-Based Devices
Amat, E., Kauerauf, T., Degraeve, R., Rodríguez, R., Nafria, M., Aymerich, X. & Groeseneken, G., 1 de març 2011, In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability. 11, 1, pàg. 92-97 5638616.Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
16 Cites (Scopus) -
Channel hot-carrier degradation in pMOS and nMOS short channel transistors with high-k dielectric stack
Amat, E., Kauerauf, T., Degraeve, R., Rodríguez, R., Nafría, M., Aymerich, X. & Groeseneken, G., 1 de gen. 2010, In: Microelectronic Engineering. 87, pàg. 47-50Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
38 Cites (Scopus) -
Channel-hot-carrier degradation and bias temperature instabilities in CMOS inverters
Martín-Martínez, J., Gerardin, S., Amat, E., Rodríguez, R., Nafría, M., Aymerich, X., Paccagnella, A. & Ghidini, G., 7 de set. 2009, In: IEEE Transactions on Electron Devices. 56, pàg. 2155-2159Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
24 Cites (Scopus)
Tesi
-
Degradació del stack dielèctric de porta SiO2/high-K en dispositius MOS: BTI i portadors calents.
Amat Bertran, E. (Autor), Rodriguez Martinez, R. (Director/a), 10 de des. 2009Tesi d’estudis: Tesi doctoral
-
Degradació del stack dielèctric SiO2/high-K: BTI i portadors calents
Amat Bertran, E. (Autor), Rodríguez Martínez, R. (Director/a), 10 de des. 2009Tesi d’estudis: Tesi doctoral