!!Projects per year
Descripció
This dataset contains the Optical images obtained on different MIM devices after inducing multiple Dielectric Breakdown (BD) events of the gate dielectric. The images were taken under different conditions in order to evaluate their suitability as entropy source for the implementation of Physical Unclonable Funtions (PUF) in security applications. The dataset corresponds to the raw images, without any type of processing.
| Data disponible | 20 de nov. 2025 |
|---|---|
| Editor | CORA.Repositori de Dades de Recerca |
| Data de producció de dades | 2022 |
Projectes
- 1 Acabat
-
THE VARIABILITY CHALLENGE IN NANO-CMOS AND BEYOND-CMOS: HARNESSING DEVICES AND MATERIALS FOR MITIGATION AND EXPLOITATION (VIGILANT-UAB)
Rodriguez Martinez, R. (Investigador/a principal), Nafria Maqueda, M. (Co-Investigador/a Principal), Diaz Fortuny, J. (Col.laborador/a), Pedreira Rincon, G. (Col.laborador/a), Pedro Puig, M. (Col.laborador/a), Ruiz Flores, A. (Col.laborador/a), Salvador Aguilera, E. (Col.laborador/a), Aymerich Humet, F. J. (Investigador/a), Crespo Yepes, A. (Investigador/a), Martin Martinez, J. (Investigador/a), Porti Pujal, M. (Investigador/a), Valdivieso Leon, C. A. (Col.laborador/a) & Claramunt Ruiz, S. (Col.laborador/a)
1/06/20 → 29/02/24
Projecte: Projectes i Ajuts a la Recerca
Producció científica
- 1 Article
-
Oxide Breakdown Spot Spatial Patterns as Fingerprints for Optical Physical Unclonable Functions
Porti, M., Redon, M., Munoz, J., Nafria, M. & Miranda, E., d’oct. 2023, In: IEEE Electron Device Letters. 44, 10, pàg. 1600-1603 4 pàg.Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
Accés Obert6 L'enllaç s'obre en una pestanya nova Cites (Scopus)1 Descàrregues (Pure)
Com citar-ho
- DataSetCite
- Short
- Compact